µPhase®

• Kompakte Bauweise mit vertikalem Messaufbau für geringen Platzbedarf
• Optimale Prüflingsausrichtung durch integrierten Kipp- sowie X-Y-Verschiebetisch
• Modulare Bauweise zur Optimierung an die Messbedürfnisse
• Optional: Verwendung eines Tray-Halters und eines motorisierten X-Y-Schlittens zur automatischen Form- und Radienmessung vieler Prüflinge in nur einem Durchgang

• Einfache Handhabung durch höhenverstellbare Säulen
• Kann dank intuitiver und einfacher Handhabung auch durch ungeschultes Personal bedient werden

• Vibrationsunempfindlich
• Bei Serienmessungen ist keine zwischenzeitliche Neuausrichtung erforderlich
• Kann dank intuitiver und einfacher Handhabung auch durch ungeschultes Personal bedient werden

• Vibrationsunempfindlich
• Bei Serienmessungen ist keine zwischenzeitliche Neuausrichtung erforderlich
• Kann dank intuitiver und einfacher Handhabung auch durch ungeschultes Personal bedient werden

• Vertikale Achse mit Grob- und Feinverstellung für hochpräzise Justage
• Optional: digitale Messeinheit zur Radiusmessung

• Optionaler CGH-Halter für die Messung von Asphären, Zylindern oder torischen Oberflächen
• MTF- und Homogenitätsmessungen auf Anfrage

TRIOPTICS bietet für Anwendungen, die über die gewöhnlichen Messanforderungen hinausgehen, umfassende Unterstützung zur Entwicklung anwendungsspezifischer Systeme. Das μPhase® ist aufgrund seines modularen Aufbaus und des kompakten Designs ein äußerst vielseitiges Interferometer. Das bedeutet, dass sich kundenspezifische Lösungen für besondere Anwendungsbereiche auf Basis von Standardkomponenten umsetzen lassen. Wir wählen die benötigten Komponenten aus und lassen durch unsere Anwendungs- und Software-Ingenieure bei Bedarf zusätzliche maßgeschneiderte Komponenten und Software-Module entwickeln.

• Mehrere Zugangslevel bieten benutzerspezifische Zugriffsmöglichkeiten, vom Administrator bis zum Anwender in der Produktion
• Umfassende, kontextspezifische Direkt-Hilfe
• Einfache Bedienung und Verringerung des Schulungsbedarfs der Nutzer durch leicht vorkonfigurierbare Vorlagen für jede Art von Messaufgabe und Auswertung
• Komfortable Reanalyse-Option gespeicherter Messungen ohne Neumessung
• Einfache Speicherung von Grafiken in verschiedenen Grafikformaten (bmp, jpg, etc.)
• Schneller Daten-Export einzelner Parameter oder ausgewählter Datenfelder als Textdatei, Binärdatei oder anderen gebräuchlichen Dateiformaten (z. B. QED, Zygo XYZ, DigitalSurf, INT) zur externen Verarbeitung
• MetroPro-kompatibles Dateiformat, erweitert um Beispielparameter aus der Aufgabenbeschreibung
• Ein zusätzlicher 2-dimensionaler polynomischer Fit als Anpassungs-Fit
• Das Messprotokoll bietet eine übersichtliche Gesamtdarstellung der Ergebnisse und lässt sich vielseitig konfigurieren, inkl. Kunden-Logo
• Übersichtliche Aufbereitung der Programm-Modi durch die separate Visualisierung von Kalibrier- und Messprozessen
• Umfassende Darstellung der Messparameter als Messwert, in grafischen 2D- bzw. 3D- und freiwählbaren Schnitt-Grafiken (1D) einschließlich des integrierten Live-Kamerabildes
• Schnelle Messung von sich wiederholenden Teilen durch Speicherung sämtlicher Parameter und Einstellungen, einschließlich Fenstergröße und ‑position, mit Muster-Daten in einer µShape™-Programmdatei
• Flexible und benutzerdefinierte Bildschirmanzeige, die sich an jeder Monitorgröße anpasst
• Live-Bild: Anzeige auf dem 2. Bildschirm als zusätzliches Fenster
• Immer auf dem aktuellen Stand der Technik durch kontinuierliche Weiterentwicklung mit regelmäßigen Updates – auf Anfrage oder als Software-Flatrate
• Vollständig kompatibel mit Windows 10 (64-Bit- und 32-Bit-Systeme)

„Aspheres“: Asphärenanalyse in sphärischen bzw. CGH-Setups

• Das Asphären-Modul ermöglicht die Auswertung starker Asphären in einem asphärischen Setup mithilfe eines computergenerierten Hologramms (CGH) sowie schwacher Asphären in sphärischen Setups. Die Beschreibung der Asphäre kann eingegeben und gespeichert werden. Dabei werden verschiedene Formate (rotationssymmetrisch) unterstützt. Verbleibende Justierfehler sowie systematische Setup-Fehler werden durch eine asphärischen Justagefit kompensiert.

„Cylinder“: Zylinderanalyse

• Das Zylinder-Modul analysiert zylindrische Prüflinge in einem zylindrischen Setup (mit CGH). Verbleibende Justagefehler werden durch einen zylindrischen Justagefit entfernt.

„Extern Interface“: Externe Kommunikationsschnittstelle

• Das externe Schnittstellen-Modul ermöglicht die Kommunikation zwischen µShape™ und externer Software wie LabVIEW™ zur Steuerung des Interferometers durch externe Programme, z. B. innerhalb eines automatisierten Systems.

„FastFringe“: Statische Streifenanalyse

• Dieses Modul ermöglicht die Auswertung eines einzelnen Interferogramms für Messungen in instabilen Umgebungen oder mit Interferometern ohne Phasenschiebeeinheit.

„Fiber connector“: Glasfaserstecker-Analyse

• Die Glasfaserstecker-Erweiterung ermöglicht die Auswertung der Endflächen von Glasfaser-Anschlüssen des Typs PC (Physical Contact = Körperkontakt) gemäß internationaler IEC-Konvention. Die Hauptparameter werden mit nur einer Messung erhoben und optional mit Gut/Schlecht-Auswertung angezeigt.

„Homogeneity“: Messung der Homogenität transparenter Prüflinge

• In einem separaten Programmmodus können beide den optischen Weg durch den Prüfling beeinflussenden Aspekte, d. h. die Homogenität (Variation des Brechungsindexes) einerseits und die Dickenvariation anderseits, bestimmt werden.

„Math Mode“: Mathematikmode

• Dieser Programm-Modus erlaubt es, unterschiedliche Datenzuordnungen in Kombination mit mathematischen Berechnungen zu einer zusätzlichen Ergebniszuordnung auszuwerten. Matrix-Berechnungen sind nicht möglich.

„Multiple apertures“: Analyse mehrerer-Teilflächen in einer Messung

• Dieses Modul ermöglicht die gemeinsame Messung und Analyse von nicht miteinander verbundenen Einzelaperturen innerhalb eines Sichtfelds, z. B. für die Messung von Prüflingen auf Polierköpfen. Die Messbarkeit mehrerer Einzelaperturen ermöglicht auch eine Keilwinkel-Analyse. Mit diese Analyse können der Keilwinkel planer Spiegel sowie der optische Keil planer Übertragungsplatten in einem Arbeitsschritt bestimmt werden.

„Multiple statistics“: Identische Statistik-Analyse auf mehreren Teil-Aperturen

• Sind in der Prüflingsspezifikation unterschiedliche Werte für verschiedene Teilbereiche desselben Prüflings definiert worden, ermöglicht das MultiStat-Modul die identische Auswertung aller Bereiche innerhalb einer einzigen Messung. Die Ergebnisse für die einzelnen Bereiche werden separat ausgegeben.

„MTF/PSF“: MTF-Analyse

• Im Bereich der Optik wird die MTF verwendet, um die Qualität optischer Systeme zu beschreiben. Das Modul ermöglicht die Bestimmung der MTF fokaler bzw. afokaler optischer Bauteile und Systeme.

„Prisms“: Prismen-Analyse

• Winkelfehler an 90°- und Tripelprismen können interferometrisch gemessen werden, indem die durch Winkelabweichung an 90°- bzw. 0°-Zielwinkeln beobachteten Interferenzmuster ausgewertet werden.

„Roughness/PSD”: Analyse von Rauheit und PSD

• Mithilfe dieses Moduls können sowohl die Power Spectral Density (PSD) als auch Rauhheitsparameter auf frei definierbaren geraden Schnitten bestimmt werden.

„Sample Normal Data“: Berücksichtigung bekannter Prüflingsabweichungen

• Die Verwendung von Prüflingsdaten (Sample Normal Data – SND) ermöglicht es, zusätzliche Fehler des Prüflings während der Prüfung zu berücksichtigen, z. B. Abweichungen aufgrund der optischen Konstruktion (konstruktionsbedingte Nennwerte).