TRIOPTICS stellt AR-Waveguide-Messlösung für die Großserienproduktion vor
ImageMaster® PRO AR Reflection setzt neue Maßstäbe mit beugungsbegrenzter Weitwinkeloptik für unübertroffene Genauigkeit und Taktzeiten
Der neue ImageMaster® PRO AR Reflection wird während der SPIE AR | VR | MR vorgestellt, einer speziellen Branchenveranstaltung, die vom 28. bis 29. Januar 2025 zusammen mit der SPIE Photonics West in San Francisco stattfindet. Es bietet Herstellern und Integratoren eine umfassende Lösung für die Validierung der Bildqualität optischer Komponenten für Augmented-Reality-Anwendungen (AR).
Unter Verwendung eines Konoskops als Kerntechnologie des Systems werden die Bilddetails mit einem großen Sichtfeld (70° x 52.5°) erfasst. „Ein Konoskop ist ein optisches Gerät, das ein großes Sichtfeld abdeckt, um die Winkelverteilung des Lichts zu analysieren, was für die Charakterisierung von Projektionssystemen unerlässlich ist. Ein gut konzipiertes beugungsbegrenztes Konoskop eignet sich hervorragend für die Messung von Winkeln außerhalb der optischen Achse - eine Aufgabe, die für andere optische Messmethoden bei simultaner Messung oft eine Herausforderung darstellt - und ist daher ideal für die Bewertung von Projektionssystemen mit großem Sichtfeld und zur Sicherstellung einer konsistenten Messleistung über das gesamte Sichtfeld“, erklärt Mohit Yadav, Produktmanager bei TRIOPTICS. “Dieser Messansatz reduziert die Messzeit und führt zu einer hohen Produktivität mit erreichbaren Taktzeiten von weniger als 1,5 Sekunden.“
Obwohl der ImageMaster® PRO AR Reflection in erster Linie auf die Produktion ausgerichtet ist, eignet er sich auch für Forschung und Entwicklung. Er kann entweder als eigenständiges Gerät funktionieren oder sich nahtlos in bestehende Produktionsprozesse integrieren. Dies schließt die Handhabung von Prüflingen durch Roboter ein, und das System kann flexibel an wechselnde Anforderungen angepasst werden.
Der ImageMaster® PRO AR Reflection gewährleistet eine hohe Messgenauigkeit über das gesamte Sichtfeld. „Die Bildqualitätsmessung mit hoher Frequenz bis zu 30 lp/° (off-axis) und noch höher (on-axis) wird mit hoher Genauigkeit durchgeführt“, berichtet Mohit Yadav. „So können nur die besten Komponenten der Waveguides und Light Engines für die folgenden Produktionsschritte ausgewählt werden, um die beste Bildqualität der fertigen AR-Brille zu gewährleisten.“ Das System ist in der Lage, eine Vielzahl von Messparametern zu erfassen, darunter die Modulationsübertragungsfunktion (MTF), die effektive Brennweite (EFL), die virtuelle Bildentfernung (VID), die Verzeichnung, die Homogenität und den Hauptstrahlwinkel (CRA). Seine 8 Freiheitsgrade ermöglichen eine umfassende Abtastung des Prüflings, die das gesamte Sichtfeld, die Eye-Box und die Fokuseinstellungen abdeckt.