Messung der Linsenmittendicke
Zu den wichtigen opto-geometrischen Kennzahlen einer jeder Optik zähen die (Mitten-)Dicken der verbauten Elemente als auch die Luftabstände zwischen ihnen. Dies gilt im visuellen wie auch im infraroten Spektralbereich. Mittels Kurzkohärenzinterferometer von TRIOPTICS können Sie diese Eigenschaften berührungslos in Produktion und Entwicklung messen und so die Abbildungsqualität ihrer Optik positiv beeinflussen.
Anwendungen
Mittendickenmessung
Sowohl für Einzellinsen als auch im verbauten Objektiv muss die Mittendicke der einzelnen Linsenelemente bestimmt werden. Unsere Lösungen erlauben dies im Entwicklungsprozess, während der Fertigung, wenn die Linse noch aufgeblockt ist, und in der finalen Qualitätskontrolle – dann auch gerne in Kombination mit einer Zentriermessung.
Luftabstandsmessung
Auch auf den Abstand kommt es an! Genauer gesagt, um die Abstände zwischen einzelnen Linsenelementen innerhalb eines Objektives. Dieser kann gleichzeitig zur Mittendicke bestimmt werden.
Prüfung der geometrischen Eigenschaften von AR-Waveguide-Stapeln und plan-optischen Elementen
Wir bieten Lösungen für die Produktion, Entwicklung oder Qualitätskontrolle von gestapelten Waveguides oder optischen Elementen. Dabei geht es um die Messung von Faktoren, die die Bildqualität beeinflussen, wie z. B. ungleiche Dicken der Schichten des Prüflings, Luftspalte und Kleber zwischen den gestapelten Schichten, Verkippungen der Schichten sowie interne Wölbungen der gestapelten Schichten.
Knowledge base
Die wichtigsten Messanwendungen des OptiSurf® PRO AR sind die folgenden:
- Zerstörungsfreie Charakterisierung der geometrischen Eigenschaften von einzelnen AR-Waveguides oder planoptischen Elementen: Messung der schwerkraftbedingten Durchbiegung, 2D-Dickenprofil, Gesamtdickenvariation, 1D- und 2D-Waferbiegung, etc.
- Zerstörungsfreie Charakterisierung der geometrischen Eigenschaften von gestapelten AR-Waveguides, die aus zwei oder mehr Waveguides mit dazwischen liegenden Luftspalten bestehen: 2D-Dickenprofil, Gesamtdickenänderung, 1D- und 2D-Waferbiegung usw. für die einzelnen Waveguides sowie 2D-Neigung und Abstand (Luftspaltdicke) zwischen den Waveguides.
Faktoren, die die Bildqualität beeinflussen:
- Ungleiche Dicke der Schicht/des Prüflings
- Luftspalt/Kleber zwischen den gestapelten Schichten
- Verkippung der Schichten
- Interne Wölbung der gestapelten Schichten
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